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1. From perovskite to infinite-layer nickelates: hole concentration from x-ray absorption

总结: 该研究利用软X射线吸收光谱系统研究了PrNiOₓ薄膜在拓扑还原各中间阶段（x=2-3）的变化。通过比较Ni-L边实验光谱与单团簇及双团簇配位场模型计算，发现所有样品均未呈现纯d⁹电子构型。基于电荷和规则的定量分析表明，即便在最大程度还原的薄膜中，镍3d空穴的平均数仍为1.35，而超导样品的空穴数更高，这质疑了此前关于空穴掺杂极限的假设。还原过程中氧K边吸收光谱的同步变化表明，即使在最还原的薄膜中也存在氧2p空穴。综合结果指出，自掺杂效应与氧非化学计量共同导致了复杂的空穴掺杂机制。